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产品详情
借助 MultiSEM 显微镜,您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今,您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的永州扫描电子显微镜(SEM)专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程,MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。
使用成熟的 ZEN 成像软件控制 MultiSEM:您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。
以极高速度和纳米分辨率采集图像
91 条电子束同时工作,拥有出色的成像速度。
在几分钟内对1 mm2的区域成像,分辨率高达 4 nm。
借助经优化的二次电子探测器,以低信噪比采集高衬度图像。
大型样品的采集和成像
MultiSEM 配备有一个可容纳 10 cm x 10 cm 大小样品的样品夹。
对整个样品成像并发现所有细节,助力于科研。
自动采集方案可实现大面积成像 - 您将获得精细的纳米图像,且不丢失可见信息。
ZEN 成像软件
使用成熟的ZEN软件简便直观地操控 MultiSEM,该软件被应用于所有蔡司成像系统
智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像
根据样品的实际情况,快速轻松地创建复杂的自动采集流程
MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像
开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发
对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取
使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织。 内搜集多达1000个连续切片。
![硅晶片上的固定胶带](https://www.zeiss.com.cn/microscopy/products/electron-microscopy/multisem/j/m/inpagetabs/tab-14446529823/textimageml_9c15/image.mobile.980.jpg/1445526359330.jpg/section_tape.jpg)
将切片用胶带固定在硅晶片上并用蔡司的永州光学显微镜成像。使用蔡司的 ZEN 成像软件以及 Shuttle & Find 功能组件对整体成像。再将硅晶片移至 MultiSEM 电子显微镜下,对样品进行整体预览并利用 ZEN 软件用户界面规划整个实验。
![MultiSEM 截屏显示](https://www.zeiss.com.cn/microscopy/products/electron-microscopy/multisem/j/m/inpagetabs/tab-14446529823/textimageml_5cb6/image.mobile.980.jpg/1445526617929.jpg/multisem_experiment_setup.jpg)
用图形化的控制中心设置整个实验。高效的自动切片检测可以识别和标注感兴趣区域,节省大量时间。